产品分类：半导体 - 集成电路 (IC),规格：比较器封装类型 DIP,
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 电压, 4, 300 ns, 2V 至 36V, DIP, 14 引脚
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 单路, 通用, 1, 200 ns, 5V 至 36V, DIP, 8 引脚
(EN)ON SEMICONDUCTOR/FAIRCHILD
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 1.4 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 8 引脚
(EN)
ON SEMICONDUCTOR/FAIRCHILD
芯片, 电压比较器
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 轨至轨, 高速, 1, 115 ns, 3.5V 至 30V, DIP, 8 引脚
(EN)
ON SEMICONDUCTOR/FAIRCHILD
模拟比较器, 双路, 高速, 2, 80 ns, 5V 至 ± 15V, DIP, 14 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 电压, 4, 300 ns, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 14 引脚
(EN)ON SEMICONDUCTOR
模拟比较器, 双路, 低偏移电压, 2, 1.3 μs, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 8 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 300 ns, 2V 至 36V, DIP, 8 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 300 ns, 2V 至 36V, DIP, 8 引脚
(EN)ON SEMICONDUCTOR/FAIRCHILD
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 1.4 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 8 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 8 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 单路, 高速, 1, 115 ns, 3.5V 至 30V, DIP, 8 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 精度, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 14 引脚
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 精度, 2, 1.3 μs, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 8 引脚
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
芯片, 差分比较器, 四路, 0.3US DIP14
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 轨至轨, 差分, 2, 300 ns, 2V 至 36V, DIP, 8 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 电压, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 14 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 轨至轨, 通用, 1, 200 ns, 5V 至 ± 15V, DIP, 8 引脚
(EN)ON SEMICONDUCTOR/FAIRCHILD
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 1.5 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 8 引脚
(EN)ON SEMICONDUCTOR
模拟比较器, 双路, 低偏移电压, 2, 1.5 μs, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 8 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 精度, 4, 1.3 μs, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 14 引脚
(EN)
ON SEMICONDUCTOR/FAIRCHILD
芯片, 电压比较器
(EN)ON SEMICONDUCTOR
模拟比较器, 四路, 通用, 4, 1.3 μs, 3V 至 36V, DIP, 14 引脚
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
半导体芯片
(EN)
