规格：复位类型 有功－低/漏极开路,
MAXIM INTEGRATED PRODUCTS
微处理器监控器, 4 监视器, 1.2V-5.5V 电源, 低有效, 漏极开路, 4.63V 阈值, SOT-23-6
(EN)
ON SEMICONDUCTOR
电压探测器, 低电平有效, 漏极开路复位, 0.8V-10V输入, TSOP-5
(EN)
MAXIM INTEGRATED PRODUCTS
微处理器监控器, 1.2V-5.5V 电源, 低有效, 漏极开路, 350MS 延迟/4.625V 阈值, SOT-223-4
(EN)
MAXIM INTEGRATED PRODUCTS
微处理器监控器, 1.2V-5.5V 电源, 低有效, 漏极开路, 185MS 延迟/2.63V 阈值, SC-70-3
(EN)MAXIM INTEGRATED PRODUCTS
微处理器监控器, 1.2V-5.5V 电源, 低有效, 漏极开路, 240MS 延迟/4.63V 阈值, SC-70-3
(EN)
ON SEMICONDUCTOR
低电源电流微处理器复位监控器, 低电平有效, 漏极开路复位, 1.2V-5.5V输入, SOT-23-3
(EN)
MICROCHIP
电压探测器, 低电平有效, 漏极开路复位, 1V-5.5V输入, SOT-23-3
(EN)ON SEMICONDUCTOR
低电源电流微处理器复位监控器, 低电平有效, 漏极开路复位, 1.2V-5.5V输入, SOT-23-3
(EN)
MAXIM INTEGRATED PRODUCTS
微处理器监控器, 1V-5.5V 电源, 低有效, 漏极开路复位, 2.24 S 延迟/2.93V 阈值, SC-70-4
(EN)MAXIM INTEGRATED PRODUCTS
微处理器监控器, 0V-5.5V 电源, 低有效, 漏极开路复位, 150MS 延迟/4.13V 阈值, SOT-23-3
(EN)ON SEMICONDUCTOR
电压探测器, 微型监控器, 低电平有效, 漏极开路复位, 1.2V-5.5V输入, SOT-23-3
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
电压探测器, 低电平有效, 漏极开路复位, 1.3V-6V输入, SC-70-5
(EN)MAXIM INTEGRATED PRODUCTS
微处理器监控器, 0V-5.5V 电源, 低有效, 漏极开路复位, 150MS 延迟/2.55V 阈值, SOT-23-3
(EN)
MAXIM INTEGRATED PRODUCTS
微处理器监控器, 2.5V-5.5V 电源, 低有效, 漏极开路复位, 180 S 延迟, SOT-23-8
(EN)ON SEMICONDUCTOR
监控器, 1.2 V至5.5 V抑制, 2.93 V阈值/20 ms 延迟, 有源低, 开漏, SOT-23-3
(EN)ON SEMICONDUCTOR
监控器, 800 mV至10 V抑制, 1.5 V阈值, 可编程延迟, 有源低, 开漏, TSOP-5
(EN)
ANALOG DEVICES
监控器, 1.2 V至5.5 V抑制, 2.32 V阈值/640 ms 延迟, 有源低, 开漏, SC-70-4
(EN)ANALOG DEVICES
监控器, 1.2 V至5.5 V抑制, 2.63 V阈值/640 ms 延迟, 有源低, 开漏, SC-70-4
(EN)MAXIM INTEGRATED PRODUCTS
微处理器监控器, 1.2V-5.5V 电源, 低有效, 漏极开路, 185MS 延迟/2.93V 阈值, SOT-23-3
(EN)
ANALOG DEVICES
监控器, 1.2 V至5.5 V抑制, 4.63 V阈值/640 ms 延迟, 有源低, 开漏, SC-70-4
(EN)MICROCHIP
监控器, 低电平有效, 漏极开路复位, 1V-5.5V输入, SC-70-3
(EN)
ON SEMICONDUCTOR
芯片, 微处理器监控器, TSOP-6
(EN)MAXIM INTEGRATED PRODUCTS
微处理器监控器, 1V-5.5V 电源, 低有效, 漏极开路复位, 150MS 延迟/3.06V 阈值, SOT-23-3
(EN)
