规格：芯片输出类型 漏极开路,
NEXPERIA
移位寄存器, 串行至并行、串行至串行, 1元件, SOIC, 16 引脚, 4.5 V, 5.5 V
(EN)
MAXIM INTEGRATED PRODUCTS
模拟比较器, 轨道外, 纳功率, 1, 22 μs, 1.8V 至 5.5V, SOT-23, 5 引脚
(EN)NEXPERIA
移位寄存器, 串行至并行、串行至串行, 1元件, SOIC, 16 引脚, 4.5 V, 5.5 V
(EN)
MICROCHIP
模拟比较器, 双路, AEC-Q100, 亚微安, 2, 3 μs, 1.6V 至 5.5V, MSOP, 8 引脚
(EN)
MAXIM INTEGRATED PRODUCTS
模拟比较器, 轨道外, 精度, 2, 31 μs, 1.8V 至 5.5V, SOT-23, 8 引脚
(EN)MICROCHIP
模拟比较器, 单路, AEC-Q100, 亚微安, 1, 3 μs, 1.6V 至 5.5V, SOT-23, 5 引脚
(EN)
ON SEMICONDUCTOR
模拟比较器, 单路, 通用, 1, 2.7V 至 5V, SC-70, 5 引脚
(EN)MAXIM INTEGRATED PRODUCTS
模拟比较器, 轨道外, 精度, 2, 31 μs, 1.8V 至 5.5V, SOT-23, 8 引脚
(EN)
NEXPERIA
移位寄存器, 串行至并行、串行至串行, 1元件, SOIC, 20 引脚, 3 V, 15 V
(EN)MAXIM INTEGRATED PRODUCTS
模拟比较器, 轨至轨, 微功率, 2, 300 ns, 2.5V 至 5.5V, ± 1.25V 至 ± 2.75V, SOT-23, 8 引脚
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 电压, 2, 155 μs, 1.8V至36V, SOT-23, 6 引脚
(EN)MAXIM INTEGRATED PRODUCTS
模拟比较器, 轨道外, 纳功率, 1, 16 μs, 1.6V 至 5.5V, SC-70, 5 引脚
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
触发器, 漏极开路, 正沿, 74AHC74, D, 11 ns, 170 MHz, 8 mA, TSSOP
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
移位寄存器, 串行至并行, 1元件, TSSOP, 16 引脚, 3 V, 5.5 V
(EN)
ANALOG DEVICES
模拟比较器, 双路, 低功耗, 2, 8 μs, 1.7V 至 5.5V, TSOT, 6 引脚
(EN)
NEXPERIA
移位寄存器, 串行至并行、串行至串行, 1元件, TSSOP, 16 引脚, 4.5 V, 5.5 V
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
芯片, 8位, 可寻址锁存器, SOIC-20
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 轨至轨, 电压, 2, 1.8V 至 18V, SOT-23, 6 引脚
(EN)
ANALOG DEVICES
模拟比较器, 单路, 通用, 1, 5 μs, 2.25V 至 5.5V, SC-70, 4 引脚
TEXAS INSTRUMENTS
芯片, 可寻址锁存器
(EN)
ANALOG DEVICES
模拟比较器, 超能低功率, 低功耗, 1, 2V 至 5.5V, WLCSP, 6 引脚
(EN)NEXPERIA
移位寄存器, 串行至并行、串行至串行, 1元件, TSSOP, 16 引脚, 4.5 V, 5.5 V
(EN)MICROCHIP
模拟比较器, 双路, AEC-Q100, 低功耗, 2, 34 ns, 1.8V 至 5.5V, MSOP, 8 引脚
(EN)
