规格：芯片输出类型 CMOS, MOS, 集电极开路 / 漏极, TTL,
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 300 ns, 2V 至 36V, SOIC, 8 引脚
(EN)ON SEMICONDUCTOR/FAIRCHILD
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 1.4 μs, ± 1V 至 ± 18V, SOP, 8 引脚
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 单路, 低电压, 1, 200 ns, 2.7V 至 5V, SOT-23, 5 引脚
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 轨至轨, 高速, 1, 115 ns, 3.5V 至 30V, DIP, 8 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 轨至轨, 低电压, 1, 1 μs, 2.7V 至 5.5V, SOT-23, 5 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 300 ns, 2V 至 36V, DIP, 8 引脚
(EN)MICROCHIP
模拟比较器, 单路, AEC-Q100, 高速, 1, 56 ns, 1.8V 至 5.5V, SOT-23, 5 引脚
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 单路, 差分, 1, 115 ns, 3.5V 至 30V, TSSOP, 8 引脚
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 单路, 通用, 1, 200 ns, 2.7V 至 5V, SC-70, 5 引脚
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 差分, 4, 300 ns, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, SOIC, 14 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 轨至轨, 微功率, 1, 4 μs, 2.7V 至 15V, SOT-23, 5 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 200 ns, 3V 至 16V, SOIC, 8 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 单路, 差分, 1, 1.3 μs, 2V 至 36V, SOT-23, 5 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 差分, 4, 300 ns, 2V 至 36V, SOIC, 14 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 低电压, 2, 1.3 μs, 2.7V 至 5.5V, SOIC, 8 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 轨至轨, 低功耗, 1, 45 ns, 2.7V 至 5.5V, SOT-23, 5 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 1.3 μs, 2V 至 36V, TSSOP, 8 引脚
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 通用, 2, 200 ns, 2.7V 至 5V, MSOP, 8 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 单路, 低功耗, 1, 1.2 μs, 3.5V 至 30V, SOIC, 8 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 200 ns, 3V 至 16V, SOIC, 8 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 200 ns, 3V 至 16V, DIP, 8 引脚
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 低电压, 4, 200 ns, 2.7V 至 5.5V, TSSOP, 14 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 差分, 4, 200 ns, 3V 至 16V, SOIC, 14 引脚
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 差分, 4, 300 ns, 2V 至 28V, DIP, 14 引脚
(EN)
LINEAR TECHNOLOGY
模拟比较器, 轨至轨, 低电压, 2, 18 μs, 1.4V 至 18V, SOT-23, 6 引脚
(EN)
