规格：比较器封装类型 DIP,
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 精度, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 14 引脚
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 微功率, 2, 2.5 μs, 3V 至 16V, DIP, 8 引脚
(EN)MICROCHIP
模拟比较器, 单路, AEC-Q100, 低功耗, 1, 4 μs, 1.6V 至 5.5V, DIP, 8 引脚
(EN)ON SEMICONDUCTOR/FAIRCHILD
模拟比较器, 四路, 电压, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 14 引脚
(EN)
ON SEMICONDUCTOR/FAIRCHILD
模拟比较器, 四路, 电压, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 14 引脚
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
逻辑芯片, 8位幅度比较器, 20DIP
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 差分, 4, 200 ns, 3V 至 16V, DIP, 14 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 精度, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 14 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 1.5 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 8 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 高速, 2, 80 ns, 5V 至 36V, DIP, 14 引脚
(EN)MICROCHIP
模拟比较器, 双路, AEC-Q100, 低功耗, 2, 4 μs, 1.6V 至 5.5V, DIP, 8 引脚
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
四路电压比较器
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
四电压比较器
(EN)
ON SEMICONDUCTOR
芯片, 通用比较器, 四路, 1.3 US, DIP-14
(EN)
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 微功率, 2, 2.5 μs, 3V 至 16V, DIP, 8 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 200 ns, 3V 至 16V, DIP, 8 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 差分, 2, 200 ns, 3V 至 16V, DIP, 8 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 差分, 4, 300 ns, 2V 至 28V, DIP, 14 引脚
(EN)
MAXIM INTEGRATED PRODUCTS
模拟比较器, ECL O/P, 高速, 1, 1.2 ns, 9.5V 至 10.5V, DIP, 16 引脚
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 通用, 2, 2.7 μs, 3V 至 16V, DIP, 8 引脚
(EN)
ON SEMICONDUCTOR
芯片, 通用比较器, 四路, 1.3US, DIP-14
(EN)TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 低功耗, 2, 4 μs, 2.7V 至 15V, DIP, 8 引脚
(EN)
