ON SEMICONDUCTOR
Analogue Comparator, Precision, 2, 1.3 μs, 2V to 36V, ± 1V to ± 18V, Micro, 8 Pins
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 精度, 2, 1.3 μs, ± 1V 至 ± 18V, SOIC, 8 引脚
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 轨至轨, 精度, 1, 120 ns, 2.7V 至 5V, SOT-23, 6 引脚
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 精度, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 14 引脚
ON SEMICONDUCTOR
模拟比较器, 精度, 2, 1.5 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, 微型, 8 引脚
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 精度, 2, 1.3 μs, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 8 引脚
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 精度, 4, 1.3 μs, ± 1V 至 ± 18V, SOIC, 14 引脚
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 精度, 2, 1.5 μs, ± 1V 至 ± 18V, SOIC, 8 引脚
MAXIM INTEGRATED PRODUCTS
模拟比较器, 轨道外, 精度, 2, 28 μs, 1.8V 至 5.5V, SOT-23, 8 引脚
MAXIM INTEGRATED PRODUCTS
模拟比较器, 轨道外, 精度, 2, 31 μs, 1.8V 至 5.5V, SOT-23, 8 引脚
MAXIM INTEGRATED PRODUCTS
模拟比较器, 低功率, 精度, 1, 15 μs, -0.3V至5.5V, 1V至5.5V, SOT-23, 5 引脚
MAXIM INTEGRATED PRODUCTS
模拟比较器, 低功率, 精度, 1, 5 ns, 4.5V 至 5.5V, SC-70, 6 引脚
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 精度, 4, 1.3 μs, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 14 引脚
MAXIM INTEGRATED PRODUCTS
模拟比较器, 低功率, 精度, 1, 5 ns, 4.5V 至 5.5V, SOT-23, 6 引脚
MAXIM INTEGRATED PRODUCTS
模拟比较器, 轨道外, 精度, 2, 31 μs, 1.8V 至 5.5V, SOT-23, 8 引脚
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 精度, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 14 引脚
ON SEMICONDUCTOR
模拟比较器, 双路, 精度, 2, 1.3 μs, 2V 至 36V, SOIC, 8 引脚
ON SEMICONDUCTOR
模拟比较器, 双路, 精度, 2, 1.5 μs, ± 1V 至 ± 18V, SOIC, 8 引脚
MAXIM INTEGRATED PRODUCTS
模拟比较器, 轨道外, 精度, 2, 31 μs, 1.8V 至 5.5V, SOT-23, 8 引脚
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 精度, 2, 1.5 μs, ± 1V 至 ± 18V, SOIC, 8 引脚
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 精度, 4, 1.3 μs, ± 1V 至 ± 18V, SOIC, 14 引脚
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 精度, 4, 1.3 μs, ± 1V 至 ± 18V, SOIC, 14 引脚
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 四路, 精度, 4, 1.3 μs, 2V 至 36V, ± 1V 至 ± 18V, DIP, 14 引脚
TEXAS INSTRUMENTS
模拟比较器, 双路, 精度, 2, 120 ns, 2.7V 至 5V, MSOP, 8 引脚
LINEAR TECHNOLOGY
模拟比较器, 轨至轨, 精度, 1, 3 μs, 2.7V 至 44V, SOT-23, 5 引脚